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  • 产品名称:金相显微镜

  • 产品型号:CX40M
  • 产品厂商:桂林光学
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简单介绍:
GX40M金相显微镜用于鉴别和分析各种金属和合金材料的组合结构,广泛应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定,原材料的检验或材料处理后的金相组织分析,以及对表面喷涂等一些表面现象进行研究工作。是钢铁、有色金属材料、铸件、镀层的金相分析,地质学的岩相分析,以及工业领域对化合物、陶瓷等进行微观研究的有效手段,是金属学和材料学研究材料组织结构的必备仪器
详情介绍:

                                                                          CX40M正置金相显微镜

  

在现代金属材料分析、精密制造及工业质检领域,高效、直观地获取材料的微观组织图像并进行精准测量,是评价材料性能、控制产品质量的核心环节。GX40M金相显微镜是一款**的图像金相显微镜,它成功整合了高清成像与精密测量技术。其*大亮点在于无需连接电脑,通过专业的工业测量相机直接连接高清显示器,即可实现实时高清观察、图像捕捉精密尺寸测量。该系统基于无限远色差校正光学系统,提供从50X至1000X的清晰放大图像,并集成了广视野、高精度的图像测量功能,为工厂实验室、质检部门及材料研究机构提供了操作极简、性价比**的一体化金相分析方案。

一、 产品概述:颠覆传统的“免电脑”智能金相工作站

GX40M金相显微镜重新定义了金相检测的流程。传统金相分析通常需要将显微镜、摄像头、电脑和专用软件组合成复杂系统,而GX40M将这一切简化为“显微镜+相机+显示器”的直连模式。它不仅仅是一台观察仪器,更是一个集成了测量功能的独立工作站。

核心选型价值:

1、真正的开箱即用:无需安装复杂的电脑软件,摆脱了对特定操作系统和电脑性能的依赖。系统连接简单,启动迅速,极大降低了设备部署和维护的复杂度与成本。

2、高清显示与实时测量:专业工业相机将高清显微图像实时呈现在大尺寸显示器上,支持多人同时观察与分析。内置测量系统可直接在屏幕上进行尺寸测量,重复精度*高可达±0.5μm

3、优异的成像与扩展性:采用无限远光学系统与平场消色差物镜,确保整个视场成像清晰、平坦、无色差。保留标准三目接口,可轻松连接其他摄像装置,兼容未来数字化升级需求。

4、广泛的应用适应性:专为金属材料分析设计,同时也可用于岩相、陶瓷、复合材料等领域的微观研究,满足从现场快速鉴定到实验室深入分析的多层次需求。

二、 核心特点详解

1、“免电脑”图像测量系统:

这是GX40M的标志性**。设备标配专业测量相机和高清显示器,系统内集成测量功能。

◆提供广视野(φ100mm)高精度两种测量模式,*小显示单位1μm,满足不同精度要求的测量任务。

重复精度:广视野模式下为±1μm,高精度模式下可达±0.5μm,保证了测量结果的可靠性与可重复性。

2、先进的光学与照明系统:

光学系统:采用无限远色差校正光学系统,有效消除像差,为高清成像和精准测量奠定光学基础。

照明系统:采用单颗大功率5W LED暖色同轴光照明,亮度连续可调。系统配备柯拉照明装置,带可调视场光阑与孔径光阑,并中心可调,确保样品得到均匀、高对比度的照明。

长工作距物镜:标配平场无限远长工作距消色差金相物镜5X, 10X, 20X, 50X),即使在高倍下也有充足的工作距离,便于操作。

3、人性化与稳固的机械结构:

低手位调焦机构:采用粗微调同轴设计,微调精度高达0.002mm,并带有防止下滑的松紧装置,操作省力、精准。

灵活载物台:双层机械移动平台,低手位X、Y同轴调节,移动范围76x42mm。平台*大可容纳高度达78mm(反射机架)的样品,适应性广。

三、 行业应用

GX40M金相显微镜专为材料微观组织分析而设计,其应用贯穿工业生产与科学研究的多个环节:

金属材料制造与加工:用于铸件质量鉴定、原材料检验以及热处理、焊接、锻造等工艺处理后的金相组织分析。例如,观察钢铁的晶粒度、相组成,分析铝合金的析出相形态。

◆表面工程与涂层分析:对电镀层、喷涂层、渗层的厚度、结合情况及微观结构进行研究和评估。

◆失效分析:在零部件失效分析中,用于观察断裂面的显微组织特征、裂纹起源与扩展路径,寻找失效原因。

◆地质与考古学:用于岩相分析,观察矿物组成、结构构造。

◆教学与研究:作为高等院校、科研院所材料科学与工程、地质学等专业的教学示范与科研工具。

四、 技术规格

部件/系统

规格与配置详情

光学系统

无限远色差校正光学系统

观察筒

选项1:30°倾斜,无限远铰链双目观察筒,瞳距调节:54-76mm,单边视度调节±5屈光度。
选项2:30°倾斜,无限远铰链三通观察筒,瞳距调节:54-76mm,单边视度调节±5屈光度,分光比 R:T=100:0 或 50:50。

目镜

高眼点大视野平场目镜 PL10X/22mm(可选用带测微尺或视度可调版本)

物镜

平场无限远长工作距消色差金相物镜:5X, 10X, 20X, 50X

总放大倍数

50X - 500X(标准配置),可选配至1000X

物镜转换器

内定位五孔转换器

调焦机构

低手位粗微同轴调焦机构。
反射机架:粗调行程28mm,微调精度0.002mm,*大样品高度78mm。
透反两用机架:有效范围35mm,粗调行程28mm,微调精度0.002mm,*大样品高度28mm。(两者均带防下滑松紧装置和上限位装置)

载物台

双层机械移动平台,低手位X、Y同轴驱动;面积175x145mm,移动范围76x42mm。

照明系统

反射照明:单颗5W LED同轴光,柯拉照明,带可调视场/孔径光阑及斜照明装置。
透射照明:需选配摇出式消色差聚光镜(N.A. 0.9)。
电源:自适应宽电压100-240V AC,50/60Hz。

摄影接口

1X C接口可调焦接筒;摄像接筒(支持PK/MD卡口);数码相机中继镜。

其他附件

高精度测微尺(格值0.01mm)

图像测量系统


像元尺寸

2.75µm×2.75µm

像素

2K超高清

传感器

逐行CMOS

输出颜色

彩色

数据位数

12bits

曝光方式

逐行曝光

光学尺寸

1/2.8-inch

信噪比

>52dB

*大帧率

60FPS

显示分辨率

1080P@60Hz

输出方式

标准HDMI接口

外接电源

12V

*大功率

5W

工作温度

0℃ - 50℃

镜头接口

标准C/CS口

外形尺寸

64.5mm×50mm×105mm

接口

USB2.0两个 HDMI一个

存储设置

SD卡、U盘存储(图片格式JPEG,视频格式H.264),*大500GB

外接设备

鼠标、键盘、可移动存储设备

基本功能

冻结功能、自动白平衡、4组十字线显示、曝光、饱和度、可开关HDR、拍图、图片回显、录像

**功能

锐化、去噪、增益、HDR细调、坏点校正、系统升级

测量功能

手动测量,有辅助线(产品标注)

构造工具:点,线,圆,圆弧,同心圆

基本测量功能:点间距,点线距,线间距,园心距,点心距,线心距,角度,弧线,园形,矩形,多边形,折线,导出数据,注释,保存图元

带坐标显示隐藏功能

显示单位:cm,mm,μm,mils

图像处理

亮度/对比度调节,提取边缘,RGB增益调节,图像对比,图像翻转,饱和度,对比度,清晰度,HDR,十字线,放大,缩小,AOI

语言

中文、英文

五、 标准配置清单

用户收到设备时将包含以下完整组件,实现开箱即用:

◆GX40M金相显微镜主机 一台

◆PL10X/22mm 高眼点大视野平场目镜 一对

◆5X, 10X, 20X, 50X 平场消色差金相物镜 各一个

摄像接筒 一个

专业工业测量相机 一套

高精度测微尺(0.01mm) 一片

22英寸高清显示器 一台

六、 选型指南

在考虑选用GX40M时,请关注以下要点以确认其是否完全匹配您的需求:

1、确认“免电脑”模式是否适用:如果您的核心需**快速完成样品的显微观察、拍照基本尺寸测量,且希望系统极其稳定、操作简单,那么GX40M的直连显示器模式是巨大优势。若需进行复杂的图像分析、数据库管理或**图像处理,则需评估其标准功能是否足够,或考虑其通过三目接口连接电脑的扩展能力。

2、明确测量精度要求:设备提供两种测量模式。请根据您常规检测的尺寸公差,判断高精度模式下的±0.5μm重复精度是否满足要求。对于绝大多数金相检验(如晶粒度评级、涂层厚度测量等),此精度已绰绰有余。

3、评估样品类型与尺寸:

样品高度:标准反射机架支持*大78mm的样品高度,足以容纳大多数块状金属试样。对于特殊高大样品,需提前确认。

样品观察面:金相显微镜通常观察抛光后的平面。如果您的样品是透明的(如矿物薄片),可能需要涉及透射光功能,需在选型时明确。

4、考虑观察与记录方式:标配系统已满足在显示器上观察、测量和拍照(通过相机功能)的需求。如果还需要录制动态视频或进行更高分辨率的静态拍摄,应咨询供应商关于相机具体录像及拍照功能的细节。

工作环境:作为精密光学仪器,应在洁净、稳定、光线适宜的实验环境中使用,以避免振动和灰尘影响成像质量与测量精度。


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